| Record ID | harvard_bibliographic_metadata/ab.bib.10.20150123.full.mrc:628870745:695 |
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245 10 $aÜber die Anwendung des selbstregistrierenden Mikrometers bei der Polhöhenbestimmung im ersten Vertikal nach der Struveschen Methode /$cJoachim Otto Fleckenstein.
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