| Record ID | harvard_bibliographic_metadata/ab.bib.11.20150123.full.mrc:129098349:1006 |
| Source | harvard_bibliographic_metadata |
| Download Link | /show-records/harvard_bibliographic_metadata/ab.bib.11.20150123.full.mrc:129098349:1006?format=raw |
LEADER: 01006cam a22002771a 4504
001 011165027-5
005 20070928215514.0
008 880729s1980 pl a b 000 0 pol
010 $a 81115225 //r92
035 $a(Crl)b13996435
035 0 $aocm18379314
040 $aDLC$cDLC$dCRL$dMH
041 0 $apol$beng$brus
100 1 $aBrudzewski, Kazimierz.
245 10 $aElipsometryczna analiza zjawisk mechanooptycznych indukowanych w cienkich warstwach silnym polem elektrycznym na przykładzie tlenków wolframu /$cKazimierz Brudzewski.
260 $aWarszawa :$bWydawn. Politechniki Warszawskiej,$c1980.
300 $a83 p. :$bill. ;$c24 cm.
490 1 $aPrace naukowe / Politechnika Warszawska. Chemia,$x0137-2300 ;$vz. 22.
500 $aCaption title.
500 $aSummary in English and Russian.
504 $aBibliography: p. 71-73.
650 0 $aThin films$xElectric properties.
650 0 $aEllipsometry.
830 0 $aPrace naukowe.$pChemia ;$vz. 22.$5crl
988 $a20070928
906 $0DLC