| Record ID | marc_records_scriblio_net/part13.dat:22706276:991 |
| Source | Scriblio |
| Download Link | /show-records/marc_records_scriblio_net/part13.dat:22706276:991?format=raw |
LEADER: 00991cam 2200265 a 4500
001 81115225 //r92
003 DLC
005 19921030081329.2
008 880729s1980 pl a b 00010 pol
010 $a 81115225 //r92
040 $aDLC$cDLC$dDLC
041 0 $apol$bengrus
050 00 $aQD1$b.W35 z. 22$aQC176.84.E5
082 00 $a540 s$a530.4/1$219
100 10 $aBrudzewski, Kazimierz.
245 10 $aElipsometryczna analiza zjawisk mechanooptycznych indukowanych w cienkich warstwach silnym polem elektrycznym na przykładzie tlenków wolframu /$cKazimierz Brudzewski.
260 0 $aWarszawa :$bWydawn. Politechniki Warszawskiej,$c1980.
300 $a83 p. :$bill. ;$c24 cm.
490 1 $aPrace naukowe / Politechnika Warszawska. Chemia,$x0137-2300 ;$vz. 22
500 $aCaption title.
500 $aSummary in English and Russian.
504 $aBibliography: p. 71-73.
650 0 $aThin films$xElectric properties.
650 0 $aEllipsometry.
830 0 $aPrace naukowe.$pChemia ;$vz. 22.